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C测试仪 3506-10的基本参数

放大字体  缩小字体 发布日期:2018-06-14  浏览次数:5
核心提示:C测试仪 3506-10的基本参数对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量● 提高了抗干扰性,在产
C测试仪 3506-10的基本参数
对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量
● 提高了抗干扰性,在产线的上也能实现高反复精度
● 1kHz、1MHz测量下,低电容的贴片时可稳定测量
● 根据BIN的测定区分容量
输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件。 ※RS-232C用连接线可以使用支持网络连接的市面上销售的交叉线。RS-232C连接线9637除硬件流控制之外的情况下可以使用。

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基本参数
测量参数    C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ)
测量范围    C:0.001fF~15.0000μF
D: 0.00001 ~ 1.99999
Q:0.0 ~ 19999.9
基本精度    (代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013
测量频率    1kHz, 1MHz
测量信号电平    500mV, 1V rms
输出电阻    1Ω (在1kHz 时2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程)
显示    LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)
测量时间    1.5ms:1MHz, 2.0 ms:1kHz
功能    BIN分类测量, 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 电流检测监视功能, 输出电压值监视功能, 控制用输入输出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口
电源    AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 最大40VA
体积及重量    260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg

 
 
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